日本理學波長色散XRF
日本理學衍射儀XRD
日本理學熱分析儀
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理學波長色散型X射線熒光光譜儀 ZSX Primus IIInext
理學新一代波長色散型X射線熒光光譜儀ZSX Primus IIInext，采用理學獨特的光路結構，使其成為質量和生產控制等應用中通用XRF的理想選擇。 -
日本理學ZSX Primus 波長色散X射線熒光光譜儀
理學ZSX系列中最新的儀器，ZSX Primus沿襲了及時提供精確結果的傳統，無與倫比的可靠性，靈活性和簡便性適合當今實驗室的各種挑戰 -
日本理學ZSX Primus IV 波長色散X射線熒光光譜儀
理學掃描型波長色散X射線熒光光譜儀ZSX Primus IV采用獨特的上照射設計，完美契合粉末樣品測試需求，可以快速定量分析從Be（鈹）到U（鈾）的各種類型樣品的成分分析。 -
日本理學Supermini 200波長色散型X射線熒光光譜儀
Supermini200擁有改良的軟件功能和更為小巧的機身。作為臺式順序WDXRF，可以分析幾乎任何材料中從氧（O）到鈾（U）的元素。理學的Supermini200提供了低成本，高分辨率和低檢出限。 -
日本理學Simultix 15波長色散X射線熒光光譜儀
理學Simultix 15波長色散X射線熒光光譜儀，作為一款功能強大的元素分析分析工具，廣泛用于高吞吐量和精度的行業（例如鋼鐵和水泥）的過程控制和品質管控。 -
日本理學全反射 X 射線熒光光譜儀TXRF 3760-華普通用
全反射 X 射線熒光光譜儀表面污染計量測量離散點的元素污染或使用完整的晶圓圖 -
日本理學連續波長色散X射線熒光光譜儀ZSX Primus 400-華普通用
Rigaku 獨特的 ZSX Primus 400 連續波長色散 X 射線熒光 (WDXRF) 光譜儀專為處理非常大或重的樣品而設計。 -
日本理學全反射 X 射線熒光光譜儀TXRF-V310-華普通用
日本理學全反射 X 射線熒光光譜儀TXRF-V310通過 VPD-TXRF 進行晶圓表面污染測量超痕量元素表面污染的測量 -
理學波長色散型X射線熒光光譜儀 ZSX Primus IVi
理學波長色散型X射線熒光光譜儀ZSX Primus IVi，采用下照式光路結構，能夠對液體、合金和電鍍金屬等樣品進行無損分析。ZSX Primus IVi為分析最復雜的樣品提供了卓越的性能和靈活性。 -
日本理學波長色散X射線熒光光譜儀WDA 3650-華普通用
波長色散X射線熒光光譜儀WDA-3650用于薄膜評估的X射線熒光分析儀同時對各種薄膜的薄膜厚度和成分進行無損、非接觸式分析